实验室期间核查的设备、要求、考虑因素和核查方法
发布时间:2023-11-17浏览次数:881
1、需要期间核查的测量设备
测量设备的期间核查仅针对A类和B类设备,目的是保持设备性能的可信度。 并不针对C类设备设备A、B、C类分类标准。
2、设备期间核查的基本要求
期间核查是测量设备校准或核查后对其测量功能和性能的核查, 其目的是为 了维持设备的性能和状态。
实验室可根据测量设备的稳定性、期间核查的成本、 风险、核查标准的可获得性、校准周期的长短等因素来确定进行期间核查设备的 范围及核查频次。
测量设备实验室应制定期间核查计划, 并针对具体的设备或计量参数的各自 特点,从经济性、实用性、可靠性、可行性等方面综合考虑制定具体的期间核查 作业指导书。
期间核查计划和记录统一归档保存。
3、确认期间核查设备需要考虑的因素
a)使用频繁;
b)检定或校准周期较长(如≥2年);
c)使用环境严酷或使用环境发生剧烈变化;
d)使用过程中容易受损、数据易变或对数据存疑的;
e)脱离实验室直接控制后返回的;
f)稳定性差的设备;
g)近几次连续校准数据趋势不良的设备。
4、设备期间核查方法
a)校准核查法
实验室具有被核查测量设备校准用的标准仪器, 则可选常用的测量点对其进 行校准核查。当核查点的测量结果不超过测量设备的[敏感词]允许误差时, 则核查通 过。
b)参考值核查法 采用参考值为Xref ,
稳定性较好的核查标准(如标准样品) ,用被核查设备
对核查标准进行测量得到测量值为Xlab ,被核查设备的[敏感词]允许误差为δ , 若 Xlab - Xref < δ ,则核查通过。
c)设备比对法
如果实验室有准确度相当的同类n(n≥3)台(套) 测量设备, 可以采用设备 比对法。即用多台同类测量设备测量同一稳定样品,进行结果评价。